參與人員

 

本計畫由清華大學、交通大學、中山大學、彰化師範大學共同參與。

包含教授4人、博士生3人、碩士生14人、大學生1人,共計22人。


Primary Investigator(Sub-Project 1)


李淑敏 Katherine Lee
National Sun Yat-Sen University(NSYSU)
Topics of Research (Sub-Project 1) :
Novel TestDNA Wafer Defect Signature for Diagnosis and Yield
Improvement in Smart Manufacturing AI-Inside Automotive Chips

R&D Staff


姓名 學校 電子郵件
李建德(DRI) 中興大學 博士生 nenohelios@hotmail.com
蔡承軒 中興大學 碩士生 a5204860@gmail.com
林晨軒 中興大學 碩士生 h4r62p2fak@gmail.com
黃柏鈞 中興大學 碩士生 mario062373869@gmail.com
吳芳其 中山大學 學士生 amy88032378@gmail.com
江勖豪 中山大學 碩士生 tyst89033@yahoo.ocm.tw
鄭周祥 中山大學 碩士生 wk53820@gmail.com
陳立揚 中山大學 碩士生 mailtoleon@gmail.com
林旻慶 中山大學 碩士生 mclin.work@gmail.com
賴敬涵 中山大學 碩士生 hancb8539@gmail.com
Nadun Sinhabahu 中山大學 博士生 nadunsinhabahu@gmail.com